激光閃射法是測定熱物性的好方法：
激光閃射法導熱系數儀主要技術參數：
LFA 467
HyperFlash® - 技術參數
Ø 溫度范圍：-100°C ... 500°C，單一爐體
Ø 非接觸式測量，IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程
Ø 數據采集速率：高達 2MHz（包括半升溫信號檢測，及 pulse mapping 技術）-- 對于高導熱及薄膜樣品，采樣時間（約為半升溫時間 10 倍）可低至 1ms，樣品厚度*薄可至 0.01 mm 以下（取決于具體的導熱系數）
Ø 熱擴散系數測量范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
Ø 導熱系數測量范圍：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
Ø 樣品尺寸：
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm（包括方形樣品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（樣品的厚度要求取決于不同樣品的導熱性能）
Ø 16 個樣品位的自動進樣器
Ø 20 多種支架類型
Ø 豐富的測量模式，適應各種類型的樣品。如各向異性材料，多層模式分析，薄膜，纖維，液體，膏狀物，粉末，熔融金屬，壓力下的測試，等等。
Ø Zoom Optics 優化檢測器的檢測范圍（磚利技術）
Ø 磚利保護的 pulse mapping 技術（US 7038209, US
20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脈沖寬度修正，可以提高比熱值的測量精度
Ø 氣氛：惰性、氧化性、靜態/動態、負壓
Ø 遵從如下標準: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO
22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
LFA 467 HT
HyperFlash® - 技術參數
Ø 溫度范圍：RT ... > 1250°C，單一爐體
Ø *大升溫速率：50 K/min
Ø 紅外檢測器：InSb（RT ... >1250°C，可配備液氮自動充填設備）
Ø 數據采集速率：*大 2 MHz（同時適用于紅外檢測器與 pulse mapping 通道）
Ø 熱擴散系數范圍：0.01 mm2/s ... 2000
mm2/s
Ø 導熱系數：< 0.1 W/(m*K) ... 4000
W/(m*K)
Ø 磚利的 pulse mapping 技術：用于有限脈沖修正，以及提高比熱測量精度
Ø 氣氛：惰性，氧化性，靜態與動態
Ø 真空：10-4 mbar
Ø 樣品支架：適合圓形與方形樣品
Ø 氣氛控制：MFC 與 AutoVac
