瑞士梅特勒-托利多 - 甘沃实业（上海）有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	卤素水分测定仪 HS153	HS153卤素水分测定仪具有快速获得结果，直观的显示测定信息等特点，确保在实验室和生产现场迅速获得可重复的测量结果。
	红外水分测定仪 MJ33	MJ33红外水分测定仪是日常测定的好选择，特别适用于工业环境，如：原料入库的水分含量测定。MJ33红外水分测定仪采用金属加热单元和简便的操作确保无差错的样品水分快速测定，简化了日常水分测定的工作。
	卤素水分仪 HB43-S	HB43-S卤素水分仪，适用于实验室和生产现场，是结合卤素灯加热技术和分析能力的一款紧凑型仪器。HB43-S卤素水分仪，具有好的重现性的水分测定结果，存储100种不同样品水分测定方法数据库。
	自动熔点测定仪 MP50/MP70/MP90	梅特勒-托利多熔点仪系统-自动熔点测定仪 MP50/MP70/MP90，您可非常准确地测定熔点或熔程。而且，自动熔点测定仪 MP50/MP70/MP90具备更多功能：通过视频观察可研究颜色变化、浊点和分解温度。
	热台HS82和DSC热台HS84 HS82, HS84	热台HS82和DSC热台HS84显微镜系统是用图像表征各种热转变过程的强大工具。它能够直接观察样品在加热或冷却过程中的晶态变化。还可以观察到结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化。热台HS82和DSC热台HS84技术可以表征相转变并且还提供有关收缩和膨胀行为的信息。
	微量天平 XP系列	梅特勒-托利多XP2U/XP6，XP系列微量天平/超微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时，尽可能减少样品使用量意味着可以降低成本。而XP26/XP56微量天平/超微量天平适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。XP系列微量天平有多种款型可选择。
	XP系列微量天平 XP26/56/26DR/56DR/XP6/XP2U/XP6	梅特勒-托利多XP系列微量天平包括XP26/56/26DR/56DR/XP6/XP2U/XP6微量天平/超微量天平，在处理昂贵、易分解或者有毒物质时，尽可能减少样品使用量意味着可以降低成本。而XP26/XP56微量天平/超微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。
	XP6002S DeltaRange 精密天平 XP6002S精密天平	八个独立设置的用户界面，用户管理定义访问权限，密码保护，历史文件，*小称量值功能，专业级全自动校准技术proFACT专业级全自动校准技术。
	快速卤素水分仪 HX204	HX204快速卤素水分仪是一种可快速简单地测定水分的解决方案，并且测量结果精准可靠。HX204快速卤素水分仪易使用，无需使用化学制品或专业实验室人员照看，测量结果与通过KF滴定法所取得的结果一致。总而言之，HX204卤素水分测定仪是快速方便地在工厂车间和质量控制实验室精准测定水分含量的好选择。
	卡尔费休水分仪卡尔费休-水分仪	水分含量的多少是物质的一项重要的质量指标，因此水分的定量分析是各类物质理化分析的基本项目之一。卡尔费休水分仪测量时，只与样品中游离的水发生反应，所以卡尔费休测量方法对水有很好的选择性，同时还具有宽的水分测量范围。因此利用卡尔费休方法测量水分的结果非常准确。
	pH计离子计/电导率仪/溶氧仪 pH计/离子计/电导率仪/溶氧仪	设计精致的梅特勒-托利多实验室仪表采用精准的电化学测量技术，针对您的各种应用需求提供解决方案。pH计/离子计/电导率仪/溶氧仪，可用于测量pH、电导率、离子浓度、溶氧。
	DSC差示扫描量热仪 DSC1,DSC2	由于采用了模块化设计，DSC差示扫描量热仪作为METTLER TOLEDO 热分析超越系列的一个组成部分，是人工或自动操作的较佳选择，适用于从生产到质量保证和技术研发。差示扫描量热仪DSC配备56对或120对热电偶的DSC传感器，确保灵敏度。
	高压差示扫描量热仪HP DSC 高压差示扫描量热仪HP DSC	高压差示扫描量热仪HP DSC 基于DSC 技术，采用FRS5和HSS8传感器，保证了其**的性能。它可在0-10 MPa的压力范围内，从室温至700 ˚C进行测试。加压将影响所有伴随发生体积改变的物理变化和化学反应。在材料测试、工艺开发或质量控制中，经常需要在压力下进行DSC测试，高压差示扫描量热仪HP DSC是根据客户的测试要求而开发出来的产品。
	DSC光量热仪(UV-DSC) 光量热仪UV-DSC	DSC光量热仪(UV-DSC)组件与DSC 组合使用，可以使DSC的使用范围扩展到光固化领域，研究光引发的反应。DSC光量热仪(UV-DSC)可以测定材料在不同的温度下用一定的波长照射不同的时间段时发生的、以及照射后所发生的焓变。
	显微/化学发光扫描量热仪 DSC/ HP DSC	显微/化学发光扫描量热仪为DSC 或HP DSC 与装备有视频和照相技术的显微镜的合成系统能够对样品在DSC中加热或冷却过程中进行光学观察。这些光学信息对于在DSC曲线中测量到的现象作出解释通常是很有用的。显微/化学发光扫描量热仪是在DSC基础上进行扩展的新技术。
	闪速差示扫描量热仪 Flash DSC	闪速差示扫描量热仪Flash DSC是快速扫描量热仪，该技术能分析之前无法测量的结构重组过程。闪速差示扫描量热仪Flash DSC与常规DSC是互补工具，升温速率达到7个数量级范围，*高升温速率可达到2,400,000 K/min。
	热重/同步差热分析仪 TGA/DSC 2	热重分析仪TGA 的核心是天平。我们的 TGA 仪器使用梅特勒-托利多微量和超微量天平。利用三种可拆卸传感器中的一种，热重/同步差热分析仪TGA/DSC 2 可同时测量热流量以及重量变化。采用模块化设计，热重/同步差热分析仪TGA/DSC 2是人工或自动操作仪器。
	热重分析仪TGA TGA1	热重分析仪TGA 的核心是天平。热重分析仪TGA使用梅特勒-托利多微量和超微量天平。由于采用模块化设计，TGA可以手动或自动控制，是一款应用于从研发、生产到质量保证的仪器。
	热机械分析仪TMA TMA/SDTA 1	热机械分析仪TMA是测量样品在非振动负荷下，随温度或时间变化而变化的形变的技术。梅特勒的热机械分析仪TMA，型号TMA/SDTA 1可在对样品进行TMA测量的同时测量差热变化（SDTA）。还具备动态负载热机械分析（DLTMA）模式，负载能周期性变化，测量样品的杨氏模量。
	动态热机械分析仪DMA1 动态热机械分析仪DMA1	动态热机械分析仪DMA1是测量样品在周期振动应力下，随温度或频率变化而变化的力学性能和粘弹性能的技术。梅特勒-托利多动态热机械分析仪DMA1具有独特的特征和优点。